Nákup FIB-SEM-AFM mikroskopu

Zakázka byla zadána.
VyhodnocenaVypsáno 19. 2. 2024
po lhůtě(do 2. 4. 2024 v 11:00)16,5 mil. CZKSnímací elektronové mikroskopy

Předmět zakázky

Rastrovací elektronový mikroskop s polem buzenou katodou (FEG) s příslušenstvím, včetně iontově-optického systému pro in-situ krájení, leštění a transfer vzorků (FIB) a mikroskopu atomárních sil typu AFM pro in-situ korelační měření.

Načítáme seznam příloh…