Profilometr na měření tlouštěk tenkých vrstev/Profilometer for measurement of thin layer thickness

Lhůta uplynula. Probíhá vyhodnocování.

Posouzení je dostupné retrospektivně — užitečné pro analýzu, proč bych mohl příště uspět.

UzavřenáVypsáno 13. 2. 2024
po lhůtě(do 27. 2. 2024 v 09:00)

Předmět zakázky

CZ: Předmětem VZ je dodávka kontaktního profilometru pro 2D a 3D vyhodnocování topografie povrchů, včetně vyhodnocování výšky schodu a drsnosti. EN: The subject of the tender is the supply of contact profilometer for 2D and 3D evaluation of surface topography, including evaluation of step height measurements and roughness.

Načítáme seznam příloh…