UPT-VZ-20-09: Rozšíření systému mikroskopu atomárních sil (AFM) řady Dimension

Předmět zakázky

Mikroskop atomárních sil řady Dimension je měřicí přístroj využívaný ke studiu povrchových vlastností vodivých i nevodivých vzorků a je schopen snímat trojrozměrné mapy (topografie) a povrchové vlastností vzorku. Požadavek na rozšíření systému vychází z potřeby měření povrchových struktur na vzorcích v rozsahu, který není na stávajícím systému umožněn.