FSv - Dodávka sestavy skenovacího elektronového mikroskopu SEM-FIB

Předmětem veřejné zakázky je dodávka systému pro elektronovou mikroskopii v kombinaci s iontovým paprskem, který zahrnuje skenovací elektronový mikroskop (SEM), iontové dělo FIB (zdroj Ga iontů nebo Xe-plasma modul), dále PC pro obsluhu přístroje, samostatné PC pro nezávislé vyhodnocování dat, software pro akvizici a analýzu dat s licencí pro minimálně dvě PC, všechny podpůrné systémy (např. vakuový systém, systém chlazení, UPS, manuální ovládací panel(y)) a nezbytné příslušenství pro základní údržbu a pozorování vzorků.